第二节 偏光显微镜(Polarizing microscope )
一.偏光显微镜的特点
偏光显微镜是鉴定物质细微结构光学性质的一种显微镜。凡具有双折射的物质,在偏光显微镜下就能分辨的清楚,当然这些物质也可用染色发来进行观察,但有些则不可能,而必须利用偏光显微镜。
偏光显微镜的特点,就是将普通改变为偏光进行镜检的方法,以鉴别某一物质是单折射(各向同行)或双折射性(各向异性)。
双折射性是晶体的基本特性。因此,偏光显微镜被广泛地应用在矿物,化学等领域。在生物学和植物学也有应用。
二.偏光显微镜的基本原理
偏光显微镜的原理比较复杂,在此不作过多介绍,偏光显微镜必须具备以下附件(a)器偏镜 (b)检偏镜 (c)专用无应力物镜 (d)旋转载物台。
三.偏光镜检术的方式
(一)正相镜检(Orthscope):又称无畸变镜检,其特点是使用低倍物镜,不用伯特兰透镜(Bertrand Lens),同时为使照明孔径变小,推开聚光镜的上透镜。
正相镜检用于检查物体的双折射性。
(二)锥光镜检(Conoscope):又称干涉镜检,这种方法用于观察物体的单轴或双轴性。
一.偏光显微镜在装置上的要求
(一)光源:最好采用单色光,因为光的速度,折射率,和干涉现象由于波长的不同而有差异。一般镜检可使用普通光。
(二)目镜:要带有十字线的目镜。
(三)聚光镜:为了取得平行偏光,应使用能推出上透镜的摇出式聚光镜。
(四)伯特兰透镜:这是把物体所有造成的初级相放大为次级相的辅助透镜。
二.偏光镜检术的要求
(一)载物台的中心与光轴同轴。
(二)起偏镜和检偏镜应处于正交位置。
(三)制片不宜过薄。
OLYMPUS 偏光显微镜有BX51-BXP