检验实际光学系统成像质量的常用方法:分辨率检验、星点检验

检验实际光学系统成像质量的方法有：

① 分辨率检验。

在检验时将分辨率板作为物平面，通过被检验光学系统成像。假定在像平面上检查所能分辨的最小间隔为δ，那么它的倒数即该系统的分辨率，用μ表示。

μ=1/δ（lp/mm)

上式中，μ的单位为lp/mm，表示每毫米能分辨的线对数，也称空间频率。光学系统的分辨率越高，能分辨的最小间隔越小，对应的空间频率μ越大。

② 星点检验。

将一个发光点作为物点，通过被检验光学系统，将形成一个弥散斑，根据弥散斑大小和能量分布情况，评定被检系统的成像质量。

以上两种方法，只能在光学系统实际制造完成以后才能进行 。

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