圆偏光DIC技术(C-DIC)

C-DIC

蔡司创新的高对比技术-圆偏光 DIC 技术。作为材料显微镜技术的应用趋势，它可以解决一系列熟知的成像问题。借助创新的 C-DIC 技术，现今已能够在全部方向上观察到以往仅在特定方向上可见的样本结构– 无论它们处于何种方位且无需旋转样品载物台。只需简单调节 DIC 滑块上的旋钮，即可实现所有样品结构的高对比度成像。所有样品信息清晰可见且对比度更高– 从而让您的工作流程更高效。

C-DIC:一种合理研究入射光排列中相结构的新显微镜方法

抽象的

圆极化光--差示干涉对比(C-DIC)是一种新的极化--光微分干涉对比法,它不同于传统的诺玛斯基方法,法国专利1.059.123,1952。),DIC棱镜(DP)是以圆形,而非线性, 极化光 .因此,所产生的干涉对比度相对于DIC棱镜的振动方向是不变的,因此后者可以根据物体的特性进行方向旋转。这意味着在保留与对象的关系时,阶段不需要旋转。对于用户来说,这意味着更多的信息和样品吞吐量的增加。

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