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光学杂谈

光罩(掩模版)的制作

时间:2024/11/23 17:02:10   作者:Leslie   来源:正势利   阅读:78   评论:0
内容摘要:一、光罩制作的基本流程:1.设计与数据准备:设计师使用电子设计自动化(EDA)软件完成集成电路的设计,并生成GDSII(GraphicDataSystemII)或其他格式的数据文件,这些数据包含了掩模版上应形成的图形信息。2.基板准备:选择高质量的透明基板,通常为高纯度石英玻璃或特定玻璃材料,进行严格的清洁和表面处理,...

一、光罩制作的基本流程:

    1. 设计与数据准备:

    设计师使用电子设计自动化(EDA)软件完成集成电路的设计,并生成GDSII(Graphic Data System II)或其他格式的数据文件,这些数据包含了掩模版上应形成的图形信息。

    2. 基板准备:

    选择高质量的透明基板,通常为高纯度石英玻璃或特定玻璃材料,进行严格的清洁和表面处理,确保无尘环境。

    3. 底层处理:

    在基板表面涂覆一层底层材料,如防反射涂层(ARC),以减少曝光过程中的光反射,提高光刻精度。

    4. 光刻胶涂布:

    使用旋转涂布技术在基板上均匀涂抹一层光刻胶,光刻胶是一种光敏材料,对特定波长的光敏感。

    5. 图案曝光:

    利用电子束曝光(EBL)或激光直写技术(对于高级或研究级掩模),根据GDSII数据精确地将电路图案曝光到光刻胶上。对于大批量生产,可能会使用更高效的光学曝光系统。

    6. 显影与蚀刻:

    显影过程会移除曝光后改变性质的光刻胶部分,露出基板表面。随后,使用湿法或干法蚀刻技术去除暴露区域的底层材料,如金属铬,从而在基板上形成图形。

    7. 检验与修补:

    使用高分辨率的光学或电子显微镜对掩模进行全尺寸检查,查找并记录任何缺陷。缺陷可能通过激光修补技术进行修复,这一过程涉及使用精确控制的激光来修改或去除错误的图形部分。

    8. 硬掩模层沉积(如有必要):

    对于需要更高耐用性的掩模,可能会在其上沉积一层硬掩模材料,如镍,以增强其抗磨损和抗蚀刻性能。

    9. 清洁与封装:

    最终清洗以去除任何残留物质,然后使用防静电、防尘的保护膜封装掩模,确保在运输和存储过程中的安全。

    10. 质量控制与出货:

    进行最终的质量检查,包括图形的尺寸、位置精度及整体清洁度的验证,确保符合客户和行业标准后,掩模版即可出货使用。

二、制作光罩掩模版所涉及的材料:

    1. 基板材料:

    石英玻璃:高纯度的合成石英玻璃,具有极高的透明度、稳定的折射率、低热膨胀系数和良好的化学稳定性,适用于高精度的集成电路制造。

    玻璃:如苏打玻璃或硼硅玻璃,虽然透明度和稳定性稍逊于石英玻璃,但在特定应用中使用以降低成本。

    树脂基板:在一些非半导体或较低精度的应用中,可能会采用光学塑料作为基板,如环氧树脂或聚碳酸酯,成本较低,加工较容易。

    2. 遮光材料:

    金属铬(Cr):最常见的遮光层材料,用于在透明基板上形成不透明的电路图案,具有良好的耐蚀性和光学密度。

    3. 光刻胶:

    正性光刻胶:曝光后易溶解的光敏聚合物,用于形成所需的图形。

    负性光刻胶:曝光后不易溶解,未曝光区域在显影时被移除,留下光刻胶图形。

    4. 辅助涂层:

    抗反射涂层(ARC):用于减少光在基板和光刻胶界面的反射,提高成像质量。

    底部抗蚀剂(BARC):在某些情况下,用于改善光刻胶与基板的黏附性或优化光刻效果。

    5. 清洗与处理化学品:

    溶剂:如异丙醇(IPA)、丙酮等,用于清洗基板表面。

    酸碱溶液:用于去除基板表面的有机污染物或氧化层。

    蚀刻液:用于蚀刻掉未被光刻胶保护的金属层或进行其他必要的蚀刻步骤。

    6. 显影液:

    正性光刻胶显影液:通常为碱性溶液,如TMAH(四甲基氢氧化铵)。

    负性光刻胶显影液:可能为有机溶剂或特定的酸性溶液。

    7. 封装材料:

    防静电保护膜:用于封装成品掩模,防止静电损害和物理损伤。

    保护框或盒:用于运输和储存掩模,提供物理保护。

    8. 辅助材料:

    对准标记材料:用于在掩模上制作对准标记,如金属或高反差材料。

    修补材料:在掩模缺陷修复过程中使用的特殊光刻胶或金属材料。

三、关键指标:

    1. 分辨率:这是衡量光罩能够实现的最细线条宽度和空间的能力,直接关系到集成电路的密度和性能。更高的分辨率意味着可以制作更精细的图案。    

2. 精度与重复性:包括套准精度和线宽精度,指图形在光罩上的位置和尺寸必须与设计数据严格一致,且在不同批次间保持高度一致性。

    3. 缺陷密度:光罩上的任何额外或缺失的图案都将影响到芯片的成品率,因此缺陷密度是衡量光罩质量的重要标准。这包括颗粒、划痕、桥接等各类缺陷。

    4. 透过率:对于透射式光罩,其材料和涂层必须允许足够的光线透过以确保良好的曝光效果,同时控制反射和散射以减少图案失真。

    5. 耐用性:在长时间使用和多次曝光过程中,光罩抵抗物理损伤和化学腐蚀的能力,尤其是对于高产量制造至关重要。

    6. 稳定性:温度变化或长时间存放后,光罩材料和涂层应保持稳定,避免图形变形或尺寸变化。

    7. 清洁度:光罩表面必须保持极高的清洁度,避免任何微粒或污染物影响曝光过程或在晶圆上形成缺陷。

    8. 可检测性和可修复性:缺陷检测的难易程度以及缺陷能否有效且精确地被修复,也是评价光罩好坏的一个方面。

四、主要供应商:

    DNS Electronics Group;

    Toppan Photomasks, Inc.;

    Hoya Corporation;

   Photronics, Inc.;

    SK-Electronics;

    LG Innotek;

    Compugraphics International Ltd.;

    Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.; 

   Nippon Filcon Co., Ltd.;

    龙图光罩(LongTu Photomask)。



标签:模版 制作 

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